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No. | Publication Number | Title | Publication/Patent Number Publication/Patent Number |
Publication Date
Publication Date
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Application Number Application Number |
Filing Date
Filing Date
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Inventor Inventor | Assignee Assignee |
IPC
IPC
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1 | CN111216364A |
用于校准用于通过增材制造来生产物体的设备的方法以及用于该方法的设备
Public
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Publication/Patent Number: CN111216364A | Publication Date: 2020-06-02 | Application Number: 201911179812.6 | Filing Date: 2019-11-26 | Inventor: 马克·赫尔曼·埃尔斯·维斯 罗伯·彼得·艾伯特·万亨德尔 欧文·维基恩 | Assignee: 添加剂工业有限公司 | IPC: B29C64/393 | Abstract: 本发明涉及一种用于校准用于通过增材制造生产物体的设备的方法。所述设备包括:处理室,用于接纳材料浴,所述材料浴可通过暴露于电磁辐射而被固化;支撑件,用于相对于所述材料浴的表面水平定位所述物体;以及固化装置,用于通过电磁辐射在表面水平上固化材料的选择性层部分固化。根据本发明的方法包括:在支撑件上或支撑件附近设置面向固化装置的校准标记的步骤,以及提供具有可指向所述支撑件的成像单元的校准系统的步骤。进一步的步骤包括:确定校准标记的位置的步骤;形成与校准标记相关的固化标记,并确定所述固化标记的位置的测量值;以及基于校准标记和固化标记两者的位置利用校准系统确定至少一个校正矢量。 | |||
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2 | CN111093951A |
用于对用于通过增材制造生产物体的设备进行校准的方法
Substantial Examination
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Publication/Patent Number: CN111093951A | Publication Date: 2020-05-01 | Application Number: 201880060967.5 | Filing Date: 2018-09-19 | Inventor: 欧文·维基恩 罗伯·彼得·艾伯特·万亨德尔 马克·赫尔曼·埃尔斯·维斯 | Assignee: 添加剂工业有限公司 | IPC: B29C64/153 | Abstract: 本发明涉及一种用于对用于通过增材制造生产物体的设备(1)进行校准的方法。该设备包括处理室(3)、以及用于相对于待固化的材料(4)浴的表面水平定位物体(2)的支撑件(5)。固化装置(7)被布置成在表面水平上发射辐射(7)束以固化所述材料的选择性部分。固化装置(7)包括用于调节聚焦设置的聚焦构件(76)。根据本发明的方法包括控制固化装置以在不同的聚焦设置下形成测试图案(a‑i)的步骤。具有传感器单元(81)的校准系统(8)被用于确定测试图案的特征,并且基于该特征确定校准后的聚焦设置。 | |||
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3 | CN111465484A |
用于通过增材制造来生产物体的设备和方法
Substantial Examination
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Publication/Patent Number: CN111465484A | Publication Date: 2020-07-28 | Application Number: 201880065403.0 | Filing Date: 2018-11-26 | Inventor: 马克·赫尔曼·埃尔斯·维斯 斯蒂夫·威廉·登特内尔 欧文·维基恩 | Assignee: 添加剂工业有限公司 | IPC: B29C64/264 | Abstract: 本发明涉及用于通过增材制造来生产物体的设备,该设备包括:处理室,用于收纳能够通过暴露于电磁辐射而固化的材料的材料浴;支撑件,用于相对于材料浴的表面水平对物体进行定位;以及固化装置,用于通过电磁辐射对表面水平上的材料的选择性层部分进行固化。此外,设置有光学控制装置,该光学控制装置具有在固化装置的电磁辐射的光学路径中的聚焦单元,并且被布置为用于对至少固化装置所发射的电磁辐射在表面水平上的聚焦进行控制。根据本发明,光学控制装置包括被布置为用于检测电磁辐射的聚焦的准确性的量度的传感器元件和被布置成可移动的聚焦校正透镜元件。通过使所述聚焦校正透镜元件移动,可以例如由于光学系统的热行为来对聚焦进行校正。 |