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No. Publication Number Title Publication/Patent Number Publication/Patent Number Publication Date Publication Date
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Inventor Inventor Assignee Assignee IPC IPC
1 DE102018118699A1
Scanneranordnung für optische Strahlung
Publication/Patent Number: DE102018118699A1 Publication Date: 2020-02-06 Application Number: 102018118699 Filing Date: 2018-08-01 Inventor: Egloff, Thomas   Schröter tobias   Assignee: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH   IPC: G02B26/10 Abstract: Die Erfindung betrifft eine Scanneranordnung zur Abtastung eines Scanfeldes (42) mittels optischer Strahlung (5). Sie ist mit mindestens einem Scanner (1) ausgestattet, der einen um eine oder zwei Scanachsen (3,4) kippbaren Scanspiegel (2) aufweist, sowie mit Mitteln zur Drehung des Scanfeldes, zur Abtastung eines in seiner Größe veränderbaren Scanfeldes sowie zum Zentrieren der Scanfeldmitte (43) beim Panning. Die Scanneranordnung ist vorzugsweise für den Einsatz in Laser-Scanning-Mikroskopen geeignet.Zwecks Drehung des Scanfeldes (42) ist eine mechanische Schwenkeinrichtung (7) vorhanden, die zum Schwenken des Scanners (1), im speziellen Fall der Scanneranordnung, um eine Schwenkachse (8) ausgebildet ist. Das Schwenken erfolgt um Winkelmaße, die einer beabsichtigten Drehung des Scanfeldes entsprechen. Es sind Mittel zur Erzeugung und Steuerung von Offsets zwecks Kompensation eines Versatzes der Scanfeldmitte (43) infolge der Schwenkung vorgesehen.
2 EP3295122B1
OPTICAL MEASURING ARRANGEMENT AND METHOD FOR DETERMINING THE ANGLE AND POSITION OF MEASUREMENT OBJECTS
Publication/Patent Number: EP3295122B1 Publication Date: 2019-07-24 Application Number: 16727299.6 Filing Date: 2016-05-10 Inventor: SchrÖter tobias   Meiser, Jan   Assignee: Karlsruher Institut für Technologie   IPC: G01B11/27
3 EP3295122A1
OPTICAL MEASURING ARRANGEMENT AND METHOD FOR DETERMINING THE ANGLE AND POSITION OF MEASUREMENT OBJECTS
Publication/Patent Number: EP3295122A1 Publication Date: 2018-03-21 Application Number: 16727299.6 Filing Date: 2016-05-10 Inventor: SchrÖter tobias   Meiser, Jan   Assignee: Karlsruher Institut für Technologie   IPC: G01B11/27
4 DE102015006306A1
Optische Messanordnung und Verfahren zur Winkel-und Positionsbestimmung von Messobjekten
Title (English): An optical measurement array and method for measuring the angle and positioning of an object
Publication/Patent Number: DE102015006306A1 Publication Date: 2016-11-17 Application Number: 102015006306 Filing Date: 2015-05-15 Inventor: SchrÖter tobias   Meiser, Jan   Assignee: Karlsruher Institut für Technologie   IPC: G01B9/02 Abstract: Die vorliegende Erfindung stellt eine optische Messanordnung (1) zur Winkel- und Positionsbestimmung von Messobjekten und ein Verfahren zur Beurteilung einer relativen Anordnung zumindest zweier Messobjekte zueinander bereit. Die optische Messanordnung (1) weist eine Punktlichtquelle (3) zur Erzeugung eines Lichtstrahlengangs
5 WO2016184547A1
OPTICAL MEASURING ARRANGEMENT AND METHOD FOR DETERMINING THE ANGLE AND POSITION OF MEASUREMENT OBJECTS
Publication/Patent Number: WO2016184547A1 Publication Date: 2016-11-24 Application Number: 2016000760 Filing Date: 2016-05-10 Inventor: SchrÖter tobias   Meiser, Jan   Assignee: Karlsruher Institut für Technologie   IPC: G01B9/02 Abstract: The present invention provides an optical measuring arrangement (1) for determining the angle and position of measurement objects and a method for evaluating a relative arrangement of at least two measurement objects in relation to one another. The optical measuring arrangement (1) has a point light source (3) for generating a light beam path
6 DE102015103164A1
Scanvorrichtung mit wenigstens einer eindimensional scannenden Scaneinheit
Title (English): A scanning device with at least one dimensional scanning device
Publication/Patent Number: DE102015103164A1 Publication Date: 2016-09-08 Application Number: 102015103164 Filing Date: 2015-03-04 Inventor: Egloff, Thomas   SchrÖter tobias   Assignee: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH   IPC: G02B21/00 Abstract: Die Erfindung betrifft eine Scanvorrichtung mit einer oder zwei gleichen Scaneinheiten zur ein- oder zweidimensionalen Ablenkung eines optischen Strahles. Die wenigstens eine Scaneinheit besteht aus einem Galvomotor (1)
7 DE102014119027A1
Vorrichtung zur Multispot-Scan-Mikroskopie
Title (English): Multipoint scanning microscope device
Publication/Patent Number: DE102014119027A1 Publication Date: 2016-06-23 Application Number: 102014119027 Filing Date: 2014-12-18 Inventor: Ritter, JÖrg   Siebenmorgen, JÖrg   SchrÖter tobias   Assignee: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH   IPC: G01N21/64 Abstract: Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Multispot-Scan-Mikroskopie mit einem Beleuchtungsstrahlengang zum Leiten von Anregungslicht auf eine Probe