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1
CN212539415U
基于超表面的红外彩色探测器
Grant
Publication/Patent Number: CN212539415U Publication Date: 2021-02-12 Application Number: 202022011969.2 Filing Date: 2020-09-15 Inventor: 叶振华   王进东   廖清君   刘棱枫   崔爱梁   张伟婷   孙渟   丁瑞军   何力   Assignee: 中国科学院上海技术物理研究所   IPC: G01J3/28 Abstract: 本专利公开了一种基于超表面的红外彩色探测器,通过在红外探测器上方放置一个用超表面制作的阶梯光栅阵列,使红外光在透过超表面阵列后发生衍射,在不同方向角上分成短、中、长波红外光,然后照射到能够探测不同波段的红外探测器上,将红外探测器上接收到的信号定义为彩色RGB信号,最后合成彩色图像。该探测器具有透光率高、分色性能好、探测效率高、利用红外波段生成彩色图像的优点。
2
CN112326029A
一种新型超快实时光谱分析仪
Public
Publication/Patent Number: CN112326029A Publication Date: 2021-02-05 Application Number: 202011115108.7 Filing Date: 2020-10-19 Inventor: 聂需辰   Assignee: 南京航空航天大学   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种新型超快实时光谱分析仪,包括光纤激光器、光纤耦合器、时间拉伸单元、时间透镜单元、示波器。光纤激光器输出超快激光脉冲。光纤耦合器将光纤激光器所输出激光脉冲分为两部分:时间拉伸单元对第一束激光脉冲进行时域色散,通过色散傅里叶变换将其频谱信息转换到时域并测量;时间透镜单元对第二束激光脉冲进行时域放大并测量其实时波形信息。示波器对时间拉伸单元和时间透镜单元所采集频谱和波形信息进行实时显示,处理后获取波长‑时间光谱图。本发明可实时获取光纤激光器中孤子瞬态动力学的波长‑时间光谱图,为理解光学怪波、调制不稳定性等非线性物理现象提供了有利帮助,能够推动超快实时光谱技术的发展。
3
CN109738067B
一种估计窄带多光谱相机合成光谱灵敏度的方法
Grant
Publication/Patent Number: CN109738067B Publication Date: 2021-01-15 Application Number: 201811594443.2 Filing Date: 2018-12-25 Inventor: 徐鹏   汪杭军   Assignee: 浙江农林大学暨阳学院   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种估计窄带多光谱相机合成光谱灵敏度的方法,包括如下步骤:在环境光源下用多光谱相机拍摄标准色卡的多光谱图像,保持多光谱相机位置不变,将校正白板放置在标准色卡处,拍摄校正白板的多光谱图像并用其校正标准色卡的多通道响应值;用分光光度计测量标准色卡的光谱反射比;利用奇异值分解计算所有色块组成的光谱反射比矩阵的酉矩阵和奇异值矩阵,并结合标准色卡校正后的多通道响应值以及非负限制条件计算多光谱相机的合成光谱灵敏度。本发明减小了噪声对估计合成光谱灵敏度的影响,同时考虑到窄带多光谱相机通道的实际物理特性,加入了非负限制的计算条件,提高了窄带多光谱相机合成光谱灵敏度的估计效果。
4
CN110017897B
一种紧凑型单目多通道可组合式多光谱成像系统
Grant
Publication/Patent Number: CN110017897B Publication Date: 2021-01-12 Application Number: 201910312642.8 Filing Date: 2019-04-18 Inventor: 孙金霞   Assignee: 长春精仪光电技术有限公司   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种紧凑型单目多通道可组合式多光谱成像系统,包括:光学镜头接口,用于固定光学成像镜头;合成光束分光棱镜,由三个或多个棱镜胶合组成;滤光片接口,具有三个或多个接口,分别用于固定不同光谱波段的滤光片模块,以产生不同光谱波段的光谱信息;传感器,包括三组或多组低空间高光谱分辨率传感器及高空间低光谱分辨率传感器,用于将所述光谱信息进行光电转换形成电信号;图像采集处理系统,包括:图像处理模块、滤光片识别模块、存储器、信息叠加模块及解析模块。
5
CN212458657U
一种便于操作的光谱仪比对装置
Grant
Publication/Patent Number: CN212458657U Publication Date: 2021-02-02 Application Number: 202021378188.0 Filing Date: 2020-07-14 Inventor: 王琸   Assignee: 天津市津汇科技有限公司   IPC: G01J3/28 Abstract: 本实用新型涉及光谱仪技术领域,公开了一种便于操作的光谱仪比对装置,包括光谱仪主体,所述光谱仪主体上安装有安装壳体,所述安装壳体内安装有对比调节结构;所述对比调节结构包括驱动轴和活动框体,所述驱动轴的端部固定连接有伺服电机,所述伺服电机固定安装在所述安装壳体的内壁上,所述驱动轴远离伺服电机的一端安装有曲轴,所述曲轴另一端活塞柱的外壁上设置有活动框体,本实用新型通过调节结构中伺服电机的驱动,可以自动实现对导杆进行左右往复运动,以此对对比样品板进行调节工作,进而加大了对比样品板范围,使得对比样品板的对比检测范围大大的提高,整体操作便捷,自动化程度高。
6
CN108844628B
一种多光谱成像探测系统
Grant
Publication/Patent Number: CN108844628B Publication Date: 2021-01-08 Application Number: 201810303907.3 Filing Date: 2018-04-04 Inventor: 王超   周奂斌   程友信   姜清秀   黄碧洲   王亚飞   周辉   Assignee: 湖北三江航天万峰科技发展有限公司   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种多光谱成像探测系统,包括窄带透射滤光片组:用于根据控制指令对辐射进行波段分离,形成若干个窄带光谱脉冲信号;多光谱探测器:用于将窄带光谱脉冲信号根据波段转换为对应波段的光谱像素信号;图像处理模块:用于将光谱像素信号转换为对应波段的光谱图像,再将若干个光谱图像经过融合算法转换为融合图像发送至内部控制系统;内部控制系统:用于对接收的融合图像处理后,形成探测图像发送至导弹跟踪系统。本发明既能实现更多光谱波段的探测,同时也可以压缩系统的体积,降低系统的成本,此外通过融合算法的图像处理大大提高了成像制导体系的探测精度。
7
CN112284535A
渐进式在轨推扫式中短波红外成像光谱仪暗背景去除方法
Public
Publication/Patent Number: CN112284535A Publication Date: 2021-01-29 Application Number: 202010965487.2 Filing Date: 2020-09-15 Inventor: 刘成玉   徐睿   何志平   袁立银   谢佳楠   金健   李春来   王蓉   Assignee: 中国科学院上海技术物理研究所   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种渐进式在轨推扫式中短波红外成像光谱仪暗背景去除方法,该方法步骤如下:(1)实验室内采集仪器所有可能的工作环境温度下所有积分时间的全幅暗背景数据;(2)根据实验室内获取的全幅暗背景数据计算校正系数矩阵;(3)结合在轨采集的全幅暗背景数据更新校正数矩阵;(4)在轨成像数据暗背景扣除。本发明的方法以扫式中短波红外成像光谱仪暗背景产生机理为基础,充分考虑了数据的完备性和仪器在轨运行时的衰减,是一种可持续的、准确性好的在轨推扫式中短波红外成像光谱仪数据暗背景去除方法。
8
CN108700462B
无移动部件的双光谱成像器及其漂移纠正方法
Grant
Publication/Patent Number: CN108700462B Publication Date: 2021-01-26 Application Number: 201680081426.1 Filing Date: 2016-02-11 Inventor: 达里奥·卡比   摩西·拉斐   利维·圣戈尔   Assignee: CI 系统(以色列)股份有限公司   IPC: G01J3/28 Abstract: 一种装置对来自一场景的辐射进行成像。一图象形成光学构件在一非制冷式的检测器上形成所述场景的一图像,所述非制冷式的检测器具有两个分离的区域。一第一滤波器容许在一第一波段中的辐射成像在所述第一个检测器区域上。一第二滤波器容许在一第二波段中的辐射成像在所述第二个检测器区域上。两个被固定地定位的楔形的构件各自通过一f数小于1.5引导来自所述场景的辐射通过所述图象形成光学构件到所述检测器上。被定位在所述装置内的一黑体源减少由所述装置周围的环境变化引起的漂移。所述黑体源通过多个楔形的构件中的一个将辐射投射到所述检测器的一区域上,所述检测器不会接收来自所述场景的辐射。基于从所述黑体产生的多个像素信号修改来自所述场景的辐射产生的多个像素信号。
9
EP2841891B1
SPECTROMETER SECONDARY REFERENCE CALIBRATION
Publication/Patent Number: EP2841891B1 Publication Date: 2021-01-06 Application Number: 13721494.6 Filing Date: 2013-04-24 Inventor: Workman, Jerome J.   Assignee: Westco Scientific Instruments, Inc.   IPC: G01J3/28
10
US10900835B2
Hyperspectral imaging method and device
Publication/Patent Number: US10900835B2 Publication Date: 2021-01-26 Application Number: 16/569,375 Filing Date: 2019-09-12 Inventor: Darty, Mark Anthony   Meenen, Peter Martin   Assignee: HYPERMED IMAGING, INC.   IPC: G01J3/28 Abstract: Disclosed are hyperspectral/multiple spectral imaging methods and devices. A method obtains first and second spectral image datasets of a region of interest (ROI). The first spectral image dataset is characterized by a first spectral range and the second spectral image dataset is characterized by a second spectral range. The method then performs a first spectral analysis on the first spectral image dataset and a second spectral analysis on the second spectral image dataset. Afterwards, the method determines one or more spectral signature(s) at a deeper layer of the ROI.
11
CN112284537A
一种推扫式高光谱成像仪光谱弯曲和梯形畸变检测方法
Public
Publication/Patent Number: CN112284537A Publication Date: 2021-01-29 Application Number: 202010966364.0 Filing Date: 2020-09-15 Inventor: 刘成玉   何志平   徐睿   袁立银   李春来   谢佳楠   金健   王蓉   Assignee: 中国科学院上海技术物理研究所   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种推扫式高光谱成像仪光谱弯曲和梯形畸变检测方法,该方法步骤如下:(1)制作适用于光谱弯曲检测和梯形畸变检测的参考靶标;(2)暗背景数据测量;(3)光谱弯曲检测靶标成像数据测量;(4)梯形畸变检测靶标成像数据测量;(5)成像数据处理;(6)时间维方向平均;(7)光谱弯曲计算;(8)梯形畸变计算。本发明的以推扫式高光谱成像仪的光谱弯曲和梯形畸变的产生机理为基础,以参考靶标测量的方式,通过一定数据处理获取了高光谱成像仪全幅的光谱弯曲和梯形畸变,在保证测量精度的同时,提高了工作效率。
12
CN112284539A
一种用于在轨短波红外成像光谱仪的盲元补偿方法
Public
Publication/Patent Number: CN112284539A Publication Date: 2021-01-29 Application Number: 202011020810.5 Filing Date: 2020-09-25 Inventor: 金健   孔垂丰   徐睿   刘成玉   王蓉   陈小文   李春来   何志平   李飞飞   吕刚   Assignee: 中国科学院上海技术物理研究所   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种用于在轨短波红外成像光谱仪的盲元补偿方法。该方法主要特征如下:光谱仪在入轨时采集冷空间背景的原始图像下传地面进行初始标定,形成盲元位置的初始信息,并保存光谱仪中,入轨后光谱仪在轨采集目标光谱图像并实时对盲元进行补偿,同时周期性的采集冷空间背景,重新检测计算盲元并以此更新在轨的盲元位置信息。该方法充分考虑了数据的完备性和仪器在轨运行时的盲元变化的可能性,特别适用于在轨短波红外成像光谱仪器的在轨使用,是一种可持续且有效的方法。
13
CN112345074A
一种芯片级星载高光谱成像探测器及其光谱成像方法
Public
Publication/Patent Number: CN112345074A Publication Date: 2021-02-09 Application Number: 202011252272.2 Filing Date: 2020-11-11 Inventor: 李克武   王爽   王志斌   Assignee: 中北大学   IPC: G01J3/02 Abstract: 本发明属于光谱成像遥感分析技术领域,具体涉及一种芯片级星载高光谱成像探测器及其光谱成像方法,包括探测器转接环、光谱透过率伪随机操控超构表面和面阵列探测器,所述光谱透过率伪随机操控超构表面包括基底、介质堆叠层,所述介质堆叠层设置在基底上,所述光谱透过率伪随机操控超构表面的基底通过探测器转接环固定在面阵列探测器的像元上面。本发明进一步提高光谱分辨率和空间分辨率,同时兼顾高通量和多光谱探测通道数,最终实现轻量化、集成化的遥感光谱成像探测装置设计,实现高光谱分辨、高空间分辨、高灵敏度和稳定精确的光谱成像探测。本发明用于对光谱成像的探测。
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US2021048342A1
SPECTRAL IMAGING APPARATUS
Publication/Patent Number: US2021048342A1 Publication Date: 2021-02-18 Application Number: 16/713,131 Filing Date: 2019-12-13 Inventor: Kim, Hyochul   Roh, Younggeun   Park, Yeonsang   Lee, Suyeon   Assignee: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.   IPC: G01J3/28 Abstract: Provided is a spectral imaging apparatus. The spectral imaging apparatus includes: an optical filter including a plurality of band filter units having different center wavelengths; a sensing device configured to receive light passing through the optical filter; an imaging lens array including a plurality of lens units which respectively correspond to the plurality of band filter units and each implement imaging on the sensing device; and a transparent substrate which is apart from the sensing device. At least one of the optical filter and the imaging lens array is provided on the transparent substrate.
15
CN112284538A
一种棱栅光谱仪光学系统及设计方法
Public
Publication/Patent Number: CN112284538A Publication Date: 2021-01-29 Application Number: 202010966376.3 Filing Date: 2020-09-15 Inventor: 袁立银   谢佳楠   王跃明   何志平   Assignee: 中国科学院上海技术物理研究所   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种棱栅光谱仪光学系统及设计方法,由视场光栏、准直镜、棱栅组件、转折镜、会聚镜、探测器窗口和滤光片组成。其中准直镜为自由曲面,棱栅组件是平面反射光栅和棱镜的组合,会聚镜是一个六片式透镜组,第一透镜的前表面为自由曲面。来自物方的光线从视场光栏出发,经准直镜反射后到达转折镜,再反射至棱栅组件,经其衍射后再经会聚镜会聚,再经探测器窗口和滤光片,最终到达像面。准直镜使用离轴自由曲面反射镜,以避免中心遮拦。采用自由曲面和棱栅组件,有利于紧凑体积和校正畸变。本发明的优点是:像差校正能力强,适合较小F数设计,畸变低,光路布局紧凑,易于装调。
16
CN112284534A
一种新型的太赫兹频谱仪
Public
Publication/Patent Number: CN112284534A Publication Date: 2021-01-29 Application Number: 202010916107.6 Filing Date: 2020-09-03 Inventor: 马建国   周绍华   Assignee: 广东工业大学   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种新型的太赫兹频谱仪,采用基于NMOSFET栅极光栅化结构的探测器、基于肖特基接触光栅化结构的探测器、基于HMET栅极光栅化结构的探测器、基于“波‑热转换结构”的探测器、基于多频太赫兹天线结构的NMOSFET探测器、基于多频太赫兹天线结构的SBD探测器作为电磁波检测的核心部件—传感器,使得覆盖波段范围更宽。另外,所有的电路均可通过常见的集成电路工艺来实现,使得本发明所提出的太赫兹频谱仪具有体积小、成本低、功耗低的优势。
17
CN112254812A
相机谱段重叠区域的计算方法、装置、设备及存储介质
Substantial Examination
Publication/Patent Number: CN112254812A Publication Date: 2021-01-22 Application Number: 202010969219.8 Filing Date: 2020-09-15 Inventor: 丁强强   武奕楠   廖祥   Assignee: 深圳市魔方卫星科技有限公司   IPC: G01J3/28 Abstract: 本发明公开了一种相机谱段重叠区域的计算方法、装置、设备及存储介质。该计算方法包括:步骤S1:将像面划分为多个谱段条带;步骤S2:获取谱段条带在像面坐标系下的第一像面特征点并确定待计算特征点;步骤S3:建立像‑物模型并计算待计算特征点在地球惯性坐标系下的地面特征点;步骤S4:经过预设成像间隔时间后,建立物‑像模型并计算地面特征点在像面坐标系下的第二像面特征点;步骤S5:当待计算特征点和第二像面特征点沿垂轨方向存在重叠区域时,获取重叠区域;步骤S6:获取重叠区域的第三像面特征点并作为待计算特征点,循环执行步骤S3‑S5,直至获取到所有谱段条带的重叠区域,计算重叠率。通过上述方式,本发明能够提高计算精度,适应性更强。
18
CN212513325U
一种防护型的光谱仪
Grant
Publication/Patent Number: CN212513325U Publication Date: 2021-02-09 Application Number: 202021469746.4 Filing Date: 2020-07-23 Inventor: 宋艳青   Assignee: 上海硅仪生化科技有限公司   IPC: G01J3/02 Abstract: 本实用新型公开了一种防护型的光谱仪,涉及光谱仪技术领域,包括防脱块、握把和主体,所述防脱块的顶部与握把的底部固定连接,所述握把的顶部与主体的底部固定连接,所述主体的一端设置有探头保护装置,所述主体的另一端设置有屏幕保护装置,所述探头保护装置的内部包括保护壳、第一卡槽、第一卡块、第二卡块和第二卡槽,所述保护壳的外壁与主体的外壁活动连接,所述保护壳的外壁与第一卡槽的外壁固定连接,所述主体的顶部固定安装有第一卡块。该装置通过设置的探头保护装置与屏幕保护装置,对没有处于工作状态的装置进行保护,保护装置相对比较脆弱,容易发生故障的探头与显示屏,方便对该装置的收纳,从而起到保护装置、延长使用寿命的效果。
19
CN109724693B
一种基于平稳小波的融合光谱去噪方法
Grant
Publication/Patent Number: CN109724693B Publication Date: 2021-01-05 Application Number: 201811607025.2 Filing Date: 2018-12-27 Inventor: 刘瑞兰   龚梦龙   周鹏   Assignee: 南京邮电大学   IPC: G01J3/02 Abstract: 本发明公开了一种基于平稳小波的融合光谱去噪方法,包括:对测得的光谱信号进行一层平稳小波分解,获得分解后光谱信号的第一细节系数和第一近似系数;对第一细节系数和第一近似系数分别采用极值中值滤波方法,去除其中的脉冲噪声;将去噪后的光谱信号进行平稳小波逆变换处理,获得过渡光谱信号;采用平稳小波对过渡光谱信号进行五层分解,获得第三细节系数和第三近似系数;采用软阈值函数及启发式阈值,对第三细节系数和第三近似系数进行去噪处理,得到第四细节系数和第四近似系数;将处理后的第四细节系数和第四近似系数进行平稳小波逆变换,获得最终光谱信号;本发明可有效抑制Gibbs现象,保证光谱信号的真实性和分辨率,实现信噪比的有效提升。
20
CN212363424U
弱光光谱检测芯片
Grant
Publication/Patent Number: CN212363424U Publication Date: 2021-01-15 Application Number: 202021502633.X Filing Date: 2020-07-27 Inventor: 黄翊东   崔开宇   刘仿   冯雪   张巍   Assignee: 清华大学   IPC: G01J3/02 Abstract: 本实用新型涉及光谱设备技术领域,尤其涉及一种弱光光谱检测芯片。该弱光光谱检测芯片包括光调制层和光电探测层,光调制层包括底板和至少一个调制单元,底板平置并连接于光电探测层上,每个调制单元内分别设有若干个穿于底板内的调制孔;光电探测层包括若干组探测单元,探测单元设置于调制单元的下方,每个探测单元内分别设有至少一个光电探测器,光电探测器用于在入射光射入调制单元形成调制光以后,对调制光进行弱光检测,通过对响应信号算法重构得到光谱。本实用新型的芯片将光谱仪缩小至芯片级别,并且不必依赖精密光学仪器,具有性能稳定、成本降低、便于操作和携带、以及可灵活移动的优点,还可以实现对弱光的光谱检测。
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